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馬爾文帕納科激光粒度儀
馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽的 Mastersizer 3000硬件平臺上，進一步優化性能，增加了多項智能輔助功能，讓設備更易用，結果的確信度更高。
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發和檢測技術的新成果，是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統，在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上，增加了多角度動態...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案，可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比，其粒度測量速度超過...
公司簡介
使用我們的技術可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學名稱、Zeta電位、蛋白質電荷、分子量、質量和構象、分子間相互作用和穩定性、元素濃度、晶體結構，元素及物相等參數。這些信息對于預測產品在使用過程中的表現、優化其性能，從而實現高效制造至關重要。作為思百吉集團成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個辦事處，總部位于上海，其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度，形貌，X射線等設備的專業實驗室，完善的實驗室設備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓的配套服務與優良的技術...
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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的高精度物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性，實現粒徑、濃度及Zeta電位等多參數同步測量，廣泛應用于生物醫藥、材料科學、環境監測等領域。技術原理：NTA技術結合激光散射與視頻顯微技術，利用納米顆粒在液體中的布朗運動特性進行表征。激光束照射樣品池后，顆粒散射的光被顯微鏡捕捉，高速攝像頭（如CMOS傳感器）以每秒30幀的頻率記錄顆粒運動軌跡。通過分析擴散系數并結合斯托克斯-愛因斯坦方程，可計算出顆粒的...
激光粒度分布儀是一種利用激光散射原理測量顆粒大小分布的精密儀器，其核心原理基于米氏散射理論（MieScatteringTheory）——當激光束照射樣品顆粒時，顆粒會使激光產生散射，散射光的強度與角度分布與顆粒大小密切相關。大顆粒產生前向小角度散射且光強較強，小顆粒則使光散射至更廣泛角度且光強較弱。通過高靈敏度光電探測器陣列捕獲不同角度的散射光信號，結合全Mie散射理論進行復雜計算，儀器可精確反演出顆粒的粒度分布數據。激光粒度分布儀的安裝步驟：1、安裝前準備人員要求：確保安裝...
X射線熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線熒光效應的高精度元素分析儀器，通過測量樣品受激發后產生的特征X射線熒光，實現元素的定性與定量分析。其核心原理是利用高能X射線轟擊樣品，使原子內層電子被擊出形成空穴，外層電子躍遷填補時釋放出特定能量的X射線熒光，該熒光的能量或波長與元素種類一一對應，強度則反映元素含量。X射線熒光光譜儀的主要結構組成：一、X射線源（激發源）用于產生高能X射線，激發樣品中的原子發射特征X射線熒光。X射線管（最常見）：由陰極（燈絲）和陽極（靶材）構成。常用靶...
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